Unterposition 903141zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

Gültig seit 01.01.1996

Einfuhr (Import)

Drittlandzoll (MFN)

0%

Ergänzende Maßeinheit

Einfuhrkontrollen

  • Einfuhrkontrolle — beschränkte Güter und Technologien

    Herkunft: Nordkorea (Demokratische Volksrepublik Korea)

    Wenn die angemeldeten Waren in den an die Maßnahme verknüpften Fußnoten aufgeführt sind, ist die Ausfuhr/Einfuhr nicht gestattet.

  • Import control

    Herkunft: Iran (Islamische Republik)

    Artikel 4 der Verordnung (EU) Nr. 267/2012 (Konsolidierte Fassung) Es ist verboten, die in Anhang II aufgeführten Güter und Technologien unmittelbar oder mittelbar von Iran zu erwerben, aus Iran einzuführen oder aus Iran zu befördern, unabhängig davon, ob es sich um Ursprungserzeugnisse Irans handelt oder nicht.

Disclaimer

Die bereitgestellten Angaben beruhen auf einer Aufbereitung der öffentlich zugänglichen TARIC-Daten der Europäischen Kommission und dienen ausschließlich unverbindlichen Informationszwecken. Für Richtigkeit, Vollständigkeit, Aktualität und Verwendbarkeit der Informationen wird keine Gewähr oder Haftung übernommen. Maßgeblich und rechtsverbindlich sind ausschließlich die jeweils einschlägigen unionsrechtlichen und nationalen Vorschriften sowie die zollrechtliche Beurteilung und Zollanmeldung im Einzelfall. Die Angaben stellen keine rechtliche, steuerliche oder zollrechtliche Beratung dar und ersetzen eine solche nicht.

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